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Derecho de patentes : observancia en diversos países / Gerhard Schricker ; Schlatter Sibylle y otros nueve autores mas

Por: Tipo de material: TextoTextoDistribuidor: LexisNexis Depalma, 2003Tipo de contenido:
  • texto
Tipo de medio:
  • no mediado
Tipo de soporte:
  • volumen
ISBN:
  • 9501418960
Tema(s): Clasificación CDD:
  • 346.048 S379d 2003
Contenidos parciales:
Observancia de los derechos de patentes en Alemania, por Hans Marshall - La observancia de las patentes de invención en la República Argentina, por Mónica Withaus - Observancia de los derechos de Patentes en los Estados Unidos, por Tomothy Maloney - La observancia de los derechos de patentes en Francia, por Laurence Petit - La observancia de los Derechos de patentes en Holanda por Jan Brinkhof - La observancia del derecho de patentes en Italia por Giovanni Casucci - La observancia del derrecho de patentes en Japón por Christopher Heath - Observancia de derechos de represión de ilícitos en el derecho Méxicano de paentes por Luis Schmidt - La observancia de los derechos de patentes en el Reino Unido, por William Cornish y David Llewelyn
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Incluye índice y bibliografía

Observancia de los derechos de patentes en Alemania, por Hans Marshall - La observancia de las patentes de invención en la República Argentina, por Mónica Withaus - Observancia de los derechos de Patentes en los Estados Unidos, por Tomothy Maloney - La observancia de los derechos de patentes en Francia, por Laurence Petit - La observancia de los Derechos de patentes en Holanda por Jan Brinkhof - La observancia del derecho de patentes en Italia por Giovanni Casucci - La observancia del derrecho de patentes en Japón por Christopher Heath - Observancia de derechos de represión de ilícitos en el derecho Méxicano de paentes por Luis Schmidt - La observancia de los derechos de patentes en el Reino Unido, por William Cornish y David Llewelyn

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